可测门阵列，不可测运放、寄存器
LT-80C通用数字IC测试仪是采用单片机技术的一种便携式仪器。能够准确、迅速地测量TTL74/54、CMOS40/45系列数字集成电路的好坏，
自动识别不知名的集成块并显示其型号。本仪器尺寸小，重量轻，携带使用方便，外壳采用工程塑料与一般数字万用表大小相当(35×85×165mm)，3位大液晶数字(字高:20mm，字宽:9mm)
显示清淅，并有蜂鸣器作为操作的提示声音。由一个９Ｖ叠层电池供电，并设一个外接电源插孔，其静态电流只有十几毫安。面板上有电源开关、一个２０脚测试座、四个操作按钮外观简捷美观。非常适合科研、生产、维修及广大电子技术爱好者使用。
工作原理
测试芯片的过程就是由80C31单片机、74HC573(功能等同74HC373,只是引脚排列不同)、EPROM
27C256组成的单片机系统用存储在EPROM 27C56
内的芯片的逻辑数据与芯片的实际输入输出逻辑关系逐一进行比较，如果相同则确定是该型号芯片。然后把型号送到显示电路，并发出一短音提示。如没有与被测试芯片相同逻辑关系的数据，则认为是坏芯片或是其它种类的芯片，这时显示999，并有三声短音提示。TTL74/54、CMOS40/45
系列芯片的引脚基本上在14～20这个范围。测试时无论被测芯片引脚多少，芯片的１脚恒定在测试座的１脚，这就把１脚对边的正电源脚Vcc固定在测试座的20脚上，由此脚为被测芯片提供+5V电源。根据被测芯片引脚的多少，电源地由测试座的7～10脚提供。由于测试中测试座除了10脚和20脚其余各脚要即能作为输入也能作为输出。80C31的
P1口、P3
口正好能满足要求。因为它们是有上拉电阻的开漏极输出，当作为输入时可被输入的低电平拉低。由于80C31可用的I/O口不够用，所以扩展了一个与
80C31类似的8位准双向I/O口。由74HC573(8D锁存器)74HC05(6非门,
开漏极输出 ) 、74HC245(8三态双向缓冲器)、三极管VT1～VT4等元件组成。
输出由74HC573经74HC139(B)址译码，
用数据存储器的写操作指令将数据锁存输出，再经74HC05和VT1～VT4反向送到测试座。因74HC573的锁存使能为高电平有效，所74HC139(B)Y0的选通信号加一个非门反向。测试座的7～10脚都有可能是被测芯片的接地脚，所以用了3个三极管来增大7～9脚的驱动电流。
输入由74HC245通过74HC139(A)地址译码，
用数据存储器的读操作指令读取被测IC脚的数据。
显示电路采用三个BCD—７段数码液晶驱动电路CD4543来完成。其功能为，ABCD脚输入4位BCD码，ST脚高电平将输入码锁存，由abcdefg输出0-9的段码。DFI
脚为输出反转控制;DFI输入高电平，段输出低电平码，DFI输入低电平，则反之。
此脚要输入一个1:1，30～500Hz的方波。这是因为液晶显示器是交流驱动器件，如直流驱动将缩短液晶显示器的使用寿命。此方波由80C31的P3.5提供。BI脚为显示开关控制，接地即显示常开。
测量范围:TTL74/54系列(包括74－、74S－、74LS－、74ALS－
、 74AC－ 、74ACT－、74HC－、74HCT－、74F－、74FHC－，以及与上述型号相对应的54
系列产品)。 CMOS40－系列,CMOS45－系列。
使用方法
１、接通电源，将待测集成块的脚“1”对准集成电路插座上的脚“1
”恒定位置,插入插座并锁紧。
２、连续按动“系列选择”键，从LCD显示屏上选出所需的系列号。如74、40、45。
３、按动“型号测试”键，对IC进行测试。如果IC性能合格，
仪器将显示其型号，并呜笛一声；如果IC未能通过测试，仪器将呜笛三声（LCD
仍然显示所选的系列号），此时，测试人应从插座上取下IC，认真检查所有管脚，排除短路、断路及插座接触不良等故障后再次测试，仍然不能通过测试的IC，应判为不合格。
4、多片同型号IC测量时,应先按“型号测试”测出首片型号，再按“性能测试”键，测余下的IC。（在“性能测试”状态下，仪器不再搜索IC型号，因此测量时可大幅度节省时间和电池能量。）IC性能合格，仪器将显示其型号；IC
性能不合格时，仪器将显示“999”，并呜笛三声。
５、对于不知名的数字集成电路，可以按74、40、45三个系列分别进行测试，最终将测出它的型号。
注意事项：
１、测量IC前，应清理管脚，排除可能造成接触不良的因素。
２、测量IC时，应牢记“对号入座”，避免IC插反。
３、仪器长期不用，应打开后盖，取出电池，避免电池液流出腐蚀仪器。